신영수 교수
KAIST 전자전산학과 신영수(38) 교수가 최근 미국 산호세(San Jose)에서 열린 고품질 전자설계에 관한 국제학회에서 “마스크 재사용을 통한 SoC 설계 비용 감소 기법” 이라는 제목의 논문으로 ‘최고논문상‘을 수상했다.

‘최고 논문상(Best Paper Award)‘은 VLSI 설계 분야에서의 뛰어난 업적을 인정하여 국제전기전자기술협회(IEEE) 컴퓨터연구회(Computer Society)가 수여하는 상으로 신 교수는 ‘고성능, 고집적 SoC를 저가에 제작할 수 있는 새로운 설계방법’을 제안하여 수상의 영예를 안았다.

고품질 전자설계에 관한 국제심포지움(ISQED, International Symposium on Quality Electronic Design)은 VLSI 설계의 고품질설계(Design for Quality), 신뢰성(Reliability), 설계방법론(Design Methodology) 등을 다루는 학술행사로 2000년에 시작하여 올해로 6번째를 맞이했다. 지난달 21일부터 23일까지 미국 산호세(San Jose)에서 개최된 이번 행사에서는 총 83편의 논문이 발표됐다.                                                <김현서 기자>
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